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电阻器失效模式与机理-失效分析

点击次数:1680     更新时间:2021-01-29

电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情,比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效或者全失效会在硬件电路调试上花费大把的时间,有时甚至炸机。

电阻器失效模式与机理
失效模式:各种失效的现象及其表现的形式。
失效机理:是导致失效的物理、化学、热力学或其他过程。
1、电阻器的主要失效模式与失效机理为
1) 开路:主要失效机理为电阻膜烧毁或大面积脱落,基体断裂,引线帽与电阻体脱落。
2) 阻值漂移超规范:电阻膜有缺陷或退化,基体有可动钠离子,保护涂层不良。
3) 引线断裂:电阻体焊接工艺缺陷,焊点污染,引线机械应力损伤。
4) 短路:银的迁移,电晕放电。 

失效机理分析

电阻器失效机理是多方面的,工作条件或环境条件下所发生的各种理化过程是引起电阻器老化的原因。

(1)导电材料的结构变化

(2)硫化

(3)气体吸附与解吸

(4)氧化

(5)有机保护层的影响

(6)机械损伤

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